Courrier / Communications
Examen en vue de l’obtention de la formation approfondie en cytopathologie à adjoindre au titre de spécialiste en pathologie
Examen en vue de l’obtention de la formation approfondie en cytopathologie à adjoindre au titre de spécialiste en pathologie
Lieu: Institut de pathologie, Université de Berne
Date: le mardi 16 juin 2020
Délai d’inscription: 30 avril 2020
Vous trouverez de plus amples informations sur le site web de l’ISFM www.siwf.ch → formation postgraduée → Titres de spécialiste et formations approfondies → Pathologie
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